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統合失調症と大脳皮質表面入り組みに関係 富山大などの研究グループが発見

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(医療介護CBニュース・07/11)

 富山大附属病院神経精神科の笹林大樹助教を中心とする研究グループは、東大大学院医学系研究科精神医学分野の笠井清登教授らと共同で、統合失調症の発症高リスク群のうち、後に発症する群は発症しない群と比べて、左後頭葉の大脳皮質の脳回形成(表面の入り組み具合)が大きいことを発見した。

知見は、統合失調症の発症メカニズムの解明や早期診断法の開発につながる可能性がある。この研究結果は、11日の米国科学誌「Biological Psychiatry」オンラインに掲載された。【君塚靖】


 統合失調症は、さまざまな神経発達過程の変化を背景に脳機能異常が生じると考えられているが、その発症メカニズムや病態生理はいまだに明らかにされていない。
今回の研究では、典型的な統合失調症を発症する前段階と考えられる症例(発症高リスク群)を対象に、MRI(磁気共鳴画像装置)を用いて、大脳皮質の脳回形成を調べた。

 発症高リスク群のうち、後に統合失調症などを発症した群は発症しなかった群と比較すると、左後頭領域の局所脳回指数(LGI)値が増加。研究の結果、この所見が、後の発症を予測する変化ととらえた。
また、発症高リスク群には、健常対照群に比べて広範囲な大脳皮質領域で脳回形成が見られ、胎生期に神経発達の障害があったことも示唆された。

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